机读格式显示(MARC)

• 000 01385nam 2200313 450

• 001 0000640268

• 005 20230720130000.0

• 010 __ |a 978-7-5124-3714-2 |d CNY55.00

• 100 __ |a 20220407d2022 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子元器件可靠性技术基础 |A dian zi yuan qi jian ke kao xing ji shu ji chu |f 付桂翠 ... [等] 编著

• 205 __ |a 第2版

• 210 __ |a 北京 |c 北京航空航天大学出版社 |d 2022

• 215 __ |a 268页 |c 图 |d 26cm

• 304 __ |a 题名页题其余责任者: 万博, 张素娟, 高成

• 320 __ |a 有书目 (第266-268页)

• 330 __ |a 本书主要围绕航空航天等装备产品高可靠、长寿命需求背景下的电子元器件可靠性保证技术这一主题, 针对电子元器件的固有可靠性和使用可靠性相关的技术进行详细的介绍。首先简要介绍电子元器件的可靠性及电子元器件的分类。其次, 在固有可靠性中, 介绍电子元器件的制造技术、封装技术及可靠性试验技术。在使用可靠性部分, 主要介绍使用可靠性保证、电子元器件的降额设计、热设计与热分析、可靠性筛选、静电损伤及防护、破坏性物理分析、失效分析等技术。最后介绍基于失效物理的元器件可靠性评价技术。

• 606 0_ |a 电子元件 |A dian zi yuan jian |x 可靠性

• 690 __ |a TN6 |v 5

• 701 _0 |a 付桂翠 |A fu gui cui |4 编著

• 701 _0 |a 万博 |A wan bo |4 编著

• 701 _0 |a 张素娟 |A zhang su juan |4 编著

• 701 _0 |a 高成 |A gao cheng |4 编著

• 801 _0 |a CN |b WFKJXY |c 20230720

• 905 __ |a WFKJXY |d TN6/51

• 920 __ |a 4370400 |z 1