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• 000 00875nam 2200169 450

• 001 0000826351

• 010 __ |a 978-7-5159-2186-0 |d CNY98.00

• 092 __ |x 2

• 100 __ |a 20250729d2025 ekmy0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 200 0_ |a 航天集成电路测试技术 |f 蒋顺成, 王勇主编

• 210 __ |a 北京 |c 中国宇航出版社 |d 2025

• 215 __ |a 354页, [4] 页图版 |d 22cm

• 330 __ |a 本书由中国航天电子技术研究院组织编写, 首先从宏观层面阐述了集成电路测试的基础分类和发展现状, 进而深入分析了在技术推动、需求牵引双轮驱动下集成电路测试的发展, 再从微观层面将航天集成电路测试方法分门别类, 结合大量宝贵实例, 对其进行了全面阐述。本书旨在系统固化多年来航天集成电路测试的技术经验与成果, 推动其规范发展, 提升测试人员实操水平与工作效率, 完善航天集成电路人才培育体系。

• 333 __ |a 本书主要面向从事航天集成电路测试工作的技术与管理人员, 可作为工具书使用, 也可作为大学相关专业的教学参考书

• 606 0_ |a 航天器

• 690 __ |a V44