机读格式显示(MARC)

• 000 01279nam0 2200301 450

• 001 0000530398

• 005 20210905130533.57

• 010 __ |a 978-7-111-68392-6 |d CNY99.00

• 100 __ |a 20210905d2021 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 集成电路测试指南 |A ji cheng dian lu ce shi zhi nan |f 加速科技组编 |g 邬刚, 王瑞金, 包军林编著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2021

• 215 __ |a 257页 |c 图 |d 24cm

• 300 __ |a 华章IT

• 330 __ |a 本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。本书最大的特点是理论与实践的相结合，避免了“纸上谈兵”。通过本书的学习，读者可以对集成电路测试有一个全面的认识，快速进入半导体集成电路测试工程领域。

• 333 __ |a 本书适合即将从事集成电路测试行业的工程师和大学或职业教育领域相关专业的学生。

• 606 0_ |a 集成电路 |A ji cheng dian lu |x 电路测试 |x 指南

• 690 __ |a TN407-62 |v 5

• 702 _0 |a 邬刚 |A wu gang |4 编著

• 702 _0 |a 王瑞金 |A wang rui jin |4 编著

• 702 _0 |a 包军林 |A bao jun lin |4 编著

• 711 02 |a 加速科技 |A jia su ke ji |4 编

• 801 _0 |a CN |b JCXA |c 20210905

• 905 __ |a WFKJXY |d TN407-62/1

• 920 __ |a 4370400 |z 1