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• 200 1_ |a 数字系统测试和可测试性设计 |9 shu zi xi tong ce shi he ke ce shi xing she ji |f (美)纳瓦比(Navabi,Z.)著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2015.4

• 215 __ |a 368页 |d 23cm

• 225 2_ |a 电子与嵌入式系统设计译丛

• 330 __ |a 这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和Verilog PLI编写测试应用，这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。

• 461 _0 |1 2001 |a 电子与嵌入式系统设计译丛

• 606 0_ |a 数字系统 |x 系统测试

• 690 __ |a TP271 |v 5

• 701 _0 |c (美) |a 纳瓦比(Navabi |9 na wa bi ( N a v a b i |4 )著

• 701 _0 |a Z.) |9 Z . ) |4 著

• 801 _0 |a CN |b 91CIP |c 20150525

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