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• 000 01174nam0 2200265 450

• 001 0000709106

• 005 20240718194200.0

• 010 __ |a 978-7-03-076918-3 |d CNY88.00

• 100 __ |a 20231207d2024 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c swe

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 片上系统测试设计与优化 |A pian shang xi tong ce shi she ji yu you hua |f (瑞典) 埃里克·拉森著 |d = Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization |f Erik Larsson |g 孙仁杰译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2024

• 215 __ |a x, 314页 |c 图 |d 26cm

• 320 __ |a 有书目 (第301-314页)

• 330 __ |a 本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。<BR>《片上系统测试设计与优化》由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。

• 510 1_ |a Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization |z eng

• 606 0_ |a 微型计算机 |A wei xing ji suan ji |x 系统测试

• 690 __ |a TP360.21 |v 5

• 701 _1 |a 拉森 |A la sen |g (Larsson, Erik) |4 著

• 702 _0 |a 孙仁杰 |A sun ren jie |4 译

• 801 _0 |a CN |b WFKJXY |c 20240718

• 905 __ |a WFKJXY |d TP360.21/40