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• 010 __ |a 978-7-5130-9496-2 |d CNY99.00

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• 200 1_ |a 专利视角下的半导体量检测关键技术 |A zhuan li shi jiao xia de ban dao ti liang jian ce guan jian ji shu |f 孙跃飞主编

• 210 __ |a 北京 |c 知识产权出版社 |d 2024

• 215 __ |a 218页 |c 图 |d 26cm

• 300 __ |a 本书内容主要基于2023年度国家知识产权局学术委员会专利分析普及推广项目“面向先进制程的半导体量检测关键技术专利分析研究”

• 314 __ |a 书内题: 孙跃飞主编

• 330 __ |a 本书创新性地开展“双线联动”和“双维定位”特色分析, 重点研究了半导体产业关键核心技术的专利布局脉络和重点申请人布局情况, 研究内容紧扣当下产业急需和未来发展趋势, 不仅可以为现有科研工作提供有力的支撑, 而且为未来的科研工作提供了有效的科研情报信息。

• 606 0_ |a 半导体技术 |A ban dao ti ji shu |x 专利 |x 分析方法

• 690 __ |a G306 |v 5

• 701 _0 |a 孙跃飞 |A sun yue fei |4 主编

• 801 _0 |a CN |b WFKJXY |c 20250820

• 905 __ |a WFKJXY |d G306/16