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• 000 01673oam2 2200361 450

• 001 0000478754

• 005 20190221163647.0

• 010 __ |a 978-7-121-35115-0 |d CNY79.00

• 100 __ |a 20190221d2019 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应 |d Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems |f (日)Eishi H. Ibe著 |g 毕津顺，马瑶，王天琦译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2019

• 215 __ |a 14,210页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 国防电子信息技术丛书 |i 集成电路辐射效应与加固技术

• 305 __ |a 由John Wiley & Sons,Inc.授权出版

• 330 __ |a 本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括：电子、介子、中子和重离子等，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。书中对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模，以量化和减少其影响，并解释了在环境辐射中包括服务器和路由器在内的电子系统是如何失效的。

• 333 __ |a 本书适用于航天电子、核与空间辐射、半导体物理和电子设备以及其他应用物理建模领域的科研人员和研究生

• 462 _0 |1 2001 |a 集成电路辐射效应与加固技术

• 510 1_ |a Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems |z eng

• 606 0_ |a 集成电路 |x 全球环境 |x 辐射效应

• 606 0_ |a 电子系统 |x 全球环境 |x 辐射效应

• 690 __ |a TN4 |v 5

• 690 __ |a TN103 |v 5

• 701 _0 |c (日) |a 伊部英治 |4 著

• 702 _0 |a 毕津顺 |4 译

• 702 _0 |a 马瑶 |4 译

• 702 _0 |a 王天琦 |4 译

• 801 _0 |a CN |b 浙江省新华书店集团公司 |c 20190221

• 905 __ |a WFKJXY |d TN4/9

• 920 __ |a 4370400 |z 1