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• 010 __ |a 978-7-04-063764-9 |d CNY45.00

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• 200 1_ |a 微电子器件可靠性 |A wei dian zi qi jian ke kao xing |f 贾新章 ... [等] 编著

• 205 __ |a 第2版

• 210 __ |a 北京 |c 高等教育出版社 |d 2025

• 215 __ |a 277页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 集成电路新兴领域“十四五”高等教育教材 |A ji cheng dian lu xin xing ling yu “ shi si wu ” gao deng jiao yu jiao cai

• 304 __ |a 题名页题其余责任者: 刘红侠, 游海龙, 恩云飞, 郑雪峰

• 314 __ |a 贾新章, 西安电子科技大学集成电路学部教授, 博士生导师。长期从事集成电路设计、微电路质量可靠性分析和评价等方面的科研和教学工作。

• 320 __ |a 有书目 (二维码)

• 330 __ |a 本书共7章, 以硅微电子器件为中心, 在介绍可靠性基本概念、梳理可靠性基本理念的基础上, 重点介绍微电路可靠性设计技术、可靠性的工艺保证要求和控制方法、微电路可靠性试验与评价, 以及支撑这些技术的可靠性数学、可靠性物理和失效分析技术。本书同时介绍了氮化镓器件的主要失效机理和可靠性设计对策。

• 410 _0 |1 2001 |a 集成电路新兴领域“十四五”高等教育教材

• 606 0_ |a 微电子技术 |A wei dian zi ji shu |x 电子器件 |x 可靠性 |x 高等教育 |j 教材

• 690 __ |a TN406 |v 5

• 701 _0 |a 贾新章 |A jia xin zhang |4 编著

• 801 _0 |a CN |b 人天书店 |c 20250423

• 905 __ |a WFKJXY |d TN406/1=2