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• 010 __ |a 978-7-111-58286-1 |d CNY79.00

• 099 __ |a CAL 012018015109

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• 101 1_ |a chi |c eng

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• 200 1_ |a 嵌入式系统中的辐射效应 |A qian ru shi xi tong zhong de fu she xiao ying |f (法) 拉乌尔·委拉兹克, (法) 帕斯卡·弗埃雷特, (巴) 里卡多·赖斯 ... 等著 |d = Radiation effects on embedded system |f Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis |g 黄云 ... [等] 译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2018

• 215 __ |a 234页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 国际电气工程先进技术译丛 |A guo ji dian qi gong cheng xian jin ji shu yi cong

• 306 __ |a 本书由Springer授权机械工业出版社

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面全面详细介绍了嵌入式系统中的辐射效应，主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。

• 333 __ |a 本书适合专业从事电子器件及系统辐射效应研究的科研人员和工程化应用的技术人员阅读和借鉴；同时，也可为该领域的“新人”(如研究生)提供必备的基础知识。

• 410 _0 |1 2001 |a 国际电气工程先进技术译丛

• 510 1_ |a Radiation effects on embedded system |z eng

• 606 0_ |a 微型计算机 |A wei xing ji suan ji |x 嵌入式系统 |x 系统设计

• 690 __ |a TP360.21 |v 4

• 701 _1 |a 委拉兹克 |A wei la zi ke |g (Velazco, Raoul) |4 著

• 701 _1 |a 弗埃雷特 |A fu ai lei te |g (Fouillat, Pascal) |4 著

• 701 _1 |a 赖斯 |A lai si |g (Reis, Ricardo) |4 著

• 702 _0 |a 黄云 |A huang yun |4 译

• 801 _2 |a CN |b WFKJXY |c 2018-8-2

• 905 __ |a WFKJXY |d TP360.21/16

• 906 __ |a 1563887 |b TP360.21/16 |c 00014 |d 79.00 |a 1563888 |b TP360.21/16 |c 00014 |d 79.00 |a 1563889 |b TP360.21/16 |c 00014 |d 79.00

• 920 __ |a 4370400 |z 1