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• 000 00970nam0 2200253 450

• 001 0000442615

• 005 20200814094135.0

• 010 __ |a 978-7-111-63407-2 |d CNY59.00

• 100 __ |a 20200514d2019 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a a z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测 |A IGBT pi lao shi xiao ji li ji qi jian kang zhuang tai jian ce |f 肖飞[等]编著

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2019

• 215 __ |a 232页 |c 图 |d 24cm

• 304 __ |a 编著还有：刘宾礼、罗毅飞、黄永乐

• 330 __ |a 本书通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理，在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上，通过将理论分析与解析描述相结合，建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法，对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。

• 606 0_ |a 绝缘栅场效应晶体管 |x 疲劳机理 |x 监测

• 690 __ |a TN386.2 |v 5

• 701 _0 |a 肖飞 |A xiao fei |4 编著

• 801 _0 |a CN |b WFKJXY |c 20200920

• 905 __ |a WFKJXY |d TN386.2/5

• 920 __ |a 4370400 |z 1