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• 010 __ |a 978-7-122-46553-5 |d CNY79.00

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• 200 1_ |a 数字集成电路测试及可测性设计 |A Shu Zi Ji Cheng Dian Lu Ce Shi Ji Ke Ce Xing She Ji |d = Digital integrated circuit testing and testability design |f 张晓旭，张永锋，山丹编著 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 化学工业出版社 |d 2024

• 215 __ |a 190页 |d 26cm

• 225 2_ |a “集成电路设计与集成系统”丛书 |A “Ji Cheng Dian Lu She Ji Yu Ji Cheng Xi Tong”Cong Shu

• 330 __ |a 本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发，介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括：数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试，以及可测性设计案例及分析。

• 333 __ |a 本书适用于高等院校集成电路设计与集成系统等专业的学生

• 410 _0 |1 2001 |a “集成电路设计与集成系统”丛书

• 510 1_ |a Digital integrated circuit testing and testability design |z eng

• 606 0_ |a 数字集成电路 |A Shu Zi Ji Cheng Dian Lu |x 测试技术

• 690 __ |a TN431.2 |v 5

• 701 _0 |a 张晓旭 |A Zhang Xiao Xu |4 编著

• 701 _0 |a 张永锋 |A Zhang Yong Feng |4 编著

• 701 _0 |a 山丹 |A Shan Dan |4 编著

• 801 _0 |a CN |b WFKJXY |c 20250623

• 905 __ |a WFKJXY |d TN431.2/8