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• 010 __ |a 978-7-308-21953-2 |d CNY78.00

• 092 __ |b CIP-C1761224A468447581A48973A146780E

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 光电材料表征技术 |A guang dian cai liao biao zheng ji shu |f 季振国等著

• 210 __ |a 杭州 |c 浙江大学出版社 |d 2022

• 215 __ |a 231页 |c 图 |d 24cm

• 312 __ |a 英文并列题名取自封面

• 320 __ |a 有书目

• 330 __ |a 本书主要介绍光电材料涉及的表征技术, 并以大量实例辅助说明, 介绍了作者近四十年来在硅单晶、ZnO、GaN、发光材料及材料表征技术等方面取得的一系列成果。全书分为成分分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度分析、光学性能测量、电学性能测量等篇章。书中涉及很多较新的表征技术, 科学性和实用性很强。本书的特点是从材料研究人员角度出发介绍材料表征技术, 重在介绍各种技术在材料领域的应用, 以用为主, 避免把重点放在仪器设备的描述上。

• 333 __ |a 光电材料研究者

• 510 1_ |a Characterization technologies for optoelectronic materials |z eng

• 606 0_ |a 光电材料 |A guang dian cai liao |x 研究

• 690 __ |a TN204 |v 5

• 701 _0 |a 季振国 |A ji zhen guo |4 著

• 801 _0 |a CN |b 北京京城新安 |c 20220819

• 905 __ |a WFKJXY |d TN204/3

• 920 __ |a 4370400 |z 1