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中文图书1.纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测 TN432/3
馆藏复本：3
可借复本：3 (美)戈埃尔(Goel, S. K.)，(印)查克拉巴蒂(Chakrabarty, K.)主编
机械工业出版社 2016
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