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检索到 2 条 责任者=上田修 的结果    

 


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  1. 中文图书1.人人可懂的模式识别 TP18/656

    馆藏复本：2
    可借复本：2     (日) 石井健一郎 ... [等] 著
    机械工业出版社 2024
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.图解入门,半导体器件缺陷与失效分析技术精讲 TN305-64/2:1

    馆藏复本：2
    可借复本：2     (日) 可靠性技术丛书编辑委员会主编
    机械工业出版社 2024
    (0) 馆藏

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