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- 题名/责任者:
- Swift ion beam analysis in nanosciences / Denis Jalabert, Ian Vickridge, Amal Chabli.
- 出版发行项:
- London, UK : ISTE, Ltd. ; Hoboken, NJ : Wiley, 2017.
- ISBN:
- 1848215770
- ISBN:
- 9781848215771
- 载体形态项:
- xvii, 258 pages : illustrations ; 25 cm.
- 个人责任者:
- Jalabert, Denis, author.
- 附加个人名称:
- Vickridge, Ian, author.
- 附加个人名称:
- Chabli, Amal, author.
- 论题主题:
- Ion bombardment-Industrial applications.
- 中图法分类号:
- O572
- 书目附注:
- Includes bibliographical references (pages 237-255) and index.
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| O572/X1 | X005367 | 经济书库-外文图书417
|
可借 | 经济书库-外文图书417 |
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