MARC状态：订购 文献类型：中文图书 浏览次数：10
- 题名/责任者:
- 航天集成电路测试技术/蒋顺成, 王勇主编
- 出版发行项:
- 北京:中国宇航出版社,2025
- ISBN及定价:
- 978-7-5159-2186-0/CNY98.00
- 载体形态项:
- 354页, [4] 页图版;22cm
- 学科主题:
- 航天器
- 中图法分类号:
- V44
- 提要文摘附注:
- 本书由中国航天电子技术研究院组织编写, 首先从宏观层面阐述了集成电路测试的基础分类和发展现状, 进而深入分析了在技术推动、需求牵引双轮驱动下集成电路测试的发展, 再从微观层面将航天集成电路测试方法分门别类, 结合大量宝贵实例, 对其进行了全面阐述。本书旨在系统固化多年来航天集成电路测试的技术经验与成果, 推动其规范发展, 提升测试人员实操水平与工作效率, 完善航天集成电路人才培育体系。
- 使用对象附注:
- 本书主要面向从事航天集成电路测试工作的技术与管理人员, 可作为工具书使用, 也可作为大学相关专业的教学参考书
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