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题名/责任者:

先进VLSI技术:中后端面试精选455问/(印) 谢里·巴尔加瓦, 高拉夫·马尼·卡纳尔著 慕意豪译

出版发行项:

北京:科学出版社,2025

ISBN及定价:

978-7-03-080012-1/CNY68.00

载体形态项:

172页:图;26cm

其它题名:

中后端面试精选455问

丛编项:

数字IC设计工程师丛书

个人责任者:

巴尔加瓦 (Bhargava, Cherry) 著

个人责任者:

卡纳尔, 高拉夫 著

个人次要责任者:

慕意豪 译

学科主题:

VLSI芯片

中图法分类号:

TN47

责任者附注:

谢里·巴尔加瓦, 博士, 印度拉夫里科技大学电气与电子工程学院VLSI领域副教授兼主任。拥有超过15年的教学和研究经验。获得印度IKGPTU电子与通信工程博士学位、塔帕大学VLSI设计与CAD硕士学位, 以及库尔克什特拉大学电子与仪器学士学位。全印度GATE考试第428名。在SCI、Scopus期刊和国际会议上发表了约50篇技术研究论文, 出版了12本与可靠性、人工智能和数字电子学相关的书籍, 版权登记3项, 申请专利20项。曾获得多项国家和国际奖项, 被评为工程学杰出教师和优秀研究人员。多个知名SCI和Scopus期刊的积极审稿人和编委成员, IET、IAENG、NSPE、IAOP、WASET和可靠性研究小组的终身会员。慕意豪, 本科毕业于山东大学, 研究生毕业于南洋理工大学。阿里云专家博主, CSDN 2022年全站博客之星TOP13。专注于数字集成电路IP/SoC设计领域, 如果想和译者进一步交流, 可以在“CSDN/知乎”, 搜索 “张江打工人“, 私信译者 ; 或通过邮件, 发送疑问至muyihao1351@foxmail.com。

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书介绍VLSI设计和制造的基本原理, 内容涵盖VLSI设计中的多个关键领域, 如静态时序分析、CMOS设计和布局、物理设计自动化、VLSI电路测试, 以及FPGA原型设计和ASIC设计中使用的工具。

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