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题名/责任者:

硬件系统模糊测试:技术揭秘与案例剖析/(西)安东尼奥·纳帕(Antonio Nappa)，(西)爱德华多·布拉斯克斯(Eduardo Blázquez)著 马鑫宇，万金，施伟铭译

出版发行项:

北京:人民邮电出版社,2025

ISBN及定价:

978-7-115-66994-0/CNY69.80

载体形态项:

200页;24cm

并列正题名:

Fuzzing against the machine:automate vulnerability research with emulated loT devices on QEMU

个人责任者:

纳帕 (Nappa, Antonio) 著

个人责任者:

布拉斯克斯 (Blázquez, Eduardo) 著

个人次要责任者:

马鑫宇 译

个人次要责任者:

万金 译

个人次要责任者:

施伟铭 译

学科主题:

电子计算机-硬件-测试技术

中图法分类号:

TP303

版本附注:

由英国Packt Publishing公司授权出版

提要文摘附注:

本书共12章，开篇明确适用读者与所需预备知识，介绍后续使用工具，接着阐述仿真发展历史、QEMU系统仿真器及其执行模式与模糊测试等基础内容。随后，通过多个案例，讲解仿真与模糊测试的实际应用。最后，总结了模糊测试的研究发现、影响及未来方向。

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