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题名/责任者:

嵌入式处理器调试方法与案例分析/扈啸, 王耀华著

出版发行项:

长沙:国防科技大学出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-5673-0638-7/CNY68.00

载体形态项:

214页:图;24cm

并列正题名:

Debug methods and examples for embedded processor

个人责任者:

扈啸 著

个人责任者:

王耀华 著

学科主题:

微处理器-调试方法

中图法分类号:

TP332

书目附注:

有书目 (第213-214页)

提要文摘附注:

本书共分6章: 第1章介绍了研究背景和主要内容, 对目前嵌入式处理器调试技术领域现状进行了概述, 对多核处理器的调试挑战进行了分析 ; 第2章对解决工程问题的通用调试方法进行了论述, 重点讨论了集合与逻辑、概率与因果方法、逻辑树与故障树等方法, 提出了基于概率故障树的推理, 并特别讨论了质量归零的方法和步骤 ; 第3章概述了调试的技术和工具, 讨论了处理器调试的模型, 提出了一套调试的理论模型和基于影响要素的调试方法论 ; 第4章对嵌人式处理器系统的核心设计问题进行了分析论述 ; 第5章结合10个经典调试案例, 对软硬件多种调试过程进行了深入描述和剖析 ; 第6章对大量调试案例进行了分类归纳并简要分析。

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