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题名/责任者:

半导体器件建模与测试实验教程:基于华大九天器件建模与验证平台XModel/杜江锋, 石艳玲, 朱能勇编著

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2025

ISBN及定价:

978-7-121-49371-3/CNY58.00

载体形态项:

213页:图;26cm

其它题名:

基于华大九天器件建模与验证平台XModel

丛编项:

集成电路系列丛书.电子设计自动化

丛编项:

国产EDA系列

丛编项:

集成电路产业知识赋能工程 电子信息·Ei精品

个人责任者:

杜江锋 编著

个人责任者:

石艳玲 编著

个人责任者:

朱能勇 编著

学科主题:

半导体器件-系统建模-高等学校

中图法分类号:

TN303

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书基于国产EDA软件Empyrean XModel器件模刑提取工具，系统、全面地介绍硅基MOSFET和GaN HEMT的器件建模、测试分析和参数提取的设计和实验全流程。

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