MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：18
- 题名/责任者:
- 数字集成电路测试及可测性设计/张晓旭，张永锋，山丹编著
- 出版发行项:
- 北京:化学工业出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-122-46553-5/CNY79.00
- 载体形态项:
- 190页;26cm
- 丛编项:
- “集成电路设计与集成系统”丛书
- 个人责任者:
- 张晓旭 编著
- 个人责任者:
- 张永锋 编著
- 个人责任者:
- 山丹 编著
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试技术
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 提要文摘附注:
- 本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发，介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括：数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试，以及可测性设计案例及分析。
- 使用对象附注:
- 本书适用于高等院校集成电路设计与集成系统等专业的学生
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN431.2/8 | 2273809 |  自然科学书库-四楼西北
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可借 | 自然科学书库-四楼西北 | |
| TN431.2/8 | 2273810 | 自然科学书库-四楼西北
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可借 | 自然科学书库-四楼西北 |
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