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题名/责任者:

LabVIEW与天线测量技术/马玉丰 ... [等] 编著

出版发行项:

西安:西安电子科技大学出版社,2023

ISBN及定价:

978-7-5606-6841-3/CNY49.00

载体形态项:

256页:图;26cm

丛编项:

天线测试技术丛书

个人责任者:

马玉丰 编著

个人责任者:

刘灵鸽 编著

个人责任者:

张启涛 编著

学科主题:

软件工具-程序设计

学科主题:

微波天线-测量技术

中图法分类号:

TP311.561

中图法分类号:

TN822

题名责任附注:

题名页题: 马玉丰, 刘灵鸽, 张启涛, 王宇编著

书目附注:

有书目 (第256页)

提要文摘附注:

本书共15章, 分为三篇。第1章至第10章为基础篇, 介绍了LabVIEW的基础知识, 包括认识LabVIEW, 启动界面、前面板与菜单, 数据格式, 循环与事件结构, 文件I/O, 画图与显示, MAX与仪器驱动、接口, VI显示设置与美化, 程序代码的保护, 生成可执行与安装程序。第11章、第12章为提高篇, 给出了天线测试系统采集软件与分析软件的源代码详细解析。第13章至第15章为高级篇, 介绍了天线测试系统集成相关知识。本书通过对这三篇内容的讲解, 可帮助读者了解天线测试参数与天线测试系统的组成、天线测试系统的工作原理、设计天线测试系统的关键知识, 这些都是天线测试系统集成与软件工程师的必备常识。

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