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MARC状态:订购 文献类型:中文图书 浏览次数:4

题名/责任者:
CEI测量技术原理、系统设计与应用/黄磊 ... [等] 著
出版发行项:
:清华大学出版社,2024
ISBN及定价:
9787302660675/99
载体形态项:
169页, [4] 页图版
丛编项:
中国航天科技前沿出版工程
学科主题:
干涉测量法
中图法分类号:
O4-34
提要文摘附注:
本书重点介绍了CEI测量技术的基本原理, CEI测量系统的设计构建, 实现CEI测量所突破的关键技术, 以及CEI测量技术的工程应用实例, 内容丰富全面, 理论与实践并重。
使用对象附注:
本书适用于从事航天测控工作的技术人员系统掌握和了解CEI干涉测量工作原理以及CEI测量系统实现方法, 有着较强的技术参考价值
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