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题名/责任者:

晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例/马秀良著

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-04-061096-3 精装/CNY149.00

载体形态项:

604页, [49] 页图版:图 (部分彩图);25cm

并列正题名:

Crystal structures and defects investigated by electron microscopy

丛编项:

材料科学与工程著作系列

个人责任者:

马秀良 著

学科主题:

晶体结构-电子显微镜分析-案例

中图法分类号:

O766

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书涵盖作者自20世纪80年代末师从郭可信先生起至近年带领研究团队在有关电子衍射方面所积累的主要实验案例，旨在以“案例”的形式梳理电子显微学及晶体学的基础知识，展示如何通过对材料基础科学问题的再认识从而对经典问题产生新理解，分享发现的乐趣，传授30余载的学术经验。本书主体 (第2-6章) 按晶体的对称性从低到高依次展开，包括单斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系，涉及周期性晶体14种布拉维点阵中的13种点阵类别以及部分准晶体，共40余种物相。第1章和第7章是科学研究中相关历史事件的精彩片段，不但能引起读者对本领域历代先驱者的无限敬仰，也能激发年轻学者投身于基础科学研究、探索自然奥秘的热情和决心。

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