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题名/责任者:

X射线荧光光谱分析/罗立强, 詹秀春, 李国会等编著

版本说明:

第3版

出版发行项:

北京:化学工业出版社,2023

ISBN及定价:

978-7-122-43039-7 精装/CNY128.00

载体形态项:

328页:图;25cm

并列正题名:

X-ray fluorescence spectrometry

个人责任者:

罗立强 编著

个人责任者:

詹秀春 编著

个人责任者:

李国会 编著

学科主题:

X射线荧火谱法-光谱分析

中图法分类号:

O657.3

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书系统阐述了X射线荧光光谱 (XRFS) 和X射线吸收光谱 (XAS) 分析基本原理，描述了XRFS光谱仪主要组件与功能，介绍了XRFS定性与定量分析方法、元素基体校正理论模型和算法、样品制备技术、仪器基本特性和仪器日常维护技术。同时，还根据XRFS的发展，介绍了μ子X射线光谱、同步辐射与微区X射线光谱分析原理与应用，强调了X射线光谱分析技术在解决重大科学问题中的支撑作用，并给出了其在生态与环境、地质、冶金、半导体材料、生物、考古等领域的研究进展与应用实例。

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