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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:19

题名/责任者:
光电材料表征技术/季振国等著
出版发行项:
杭州:浙江大学出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-308-21953-2/CNY78.00
载体形态项:
231页:图;24cm
并列正题名:
Characterization technologies for optoelectronic materials
个人责任者:
季振国
学科主题:
光电材料-研究
中图法分类号:
TN204
相关题名附注:
英文并列题名取自封面
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书主要介绍光电材料涉及的表征技术, 并以大量实例辅助说明, 介绍了作者近四十年来在硅单晶、ZnO、GaN、发光材料及材料表征技术等方面取得的一系列成果。全书分为成分分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度分析、光学性能测量、电学性能测量等篇章。书中涉及很多较新的表征技术, 科学性和实用性很强。本书的特点是从材料研究人员角度出发介绍材料表征技术, 重在介绍各种技术在材料领域的应用, 以用为主, 避免把重点放在仪器设备的描述上。
使用对象附注:
光电材料研究者
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN204/3 1997664   自然科学书库-四楼西北     可借 自然科学书库-四楼西北
TN204/3 1997665   自然科学书库-四楼西北     可借 自然科学书库-四楼西北
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