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题名/责任者:

集成电路测试指南/加速科技组编 邬刚, 王瑞金, 包军林编著

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-111-68392-6/CNY99.00

载体形态项:

257页:图;24cm

个人次要责任者:

邬刚 编著

个人次要责任者:

王瑞金 编著

个人次要责任者:

包军林 编著

团体责任者:

加速科技 编

学科主题:

集成电路-电路测试-指南

中图法分类号:

TN407-62

一般附注:

华章IT

提要文摘附注:

本书将半导体集成电路测试原理与实际测试实现过程相结合，内容涵盖半导体集成电路测试流程，测试原理及集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦除编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试实例。本书最大的特点是理论与实践的相结合，避免了“纸上谈兵”。通过本书的学习，读者可以对集成电路测试有一个全面的认识，快速进入半导体集成电路测试工程领域。

使用对象附注:

本书适合即将从事集成电路测试行业的工程师和大学或职业教育领域相关专业的学生。

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