IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测

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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:13

题名/责任者:
IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测/肖飞[等]编著
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2019
ISBN及定价:
978-7-111-63407-2/CNY59.00
载体形态项:
232页:图;24cm
个人责任者:
肖飞 编著
学科主题:
绝缘栅场效应晶体管-疲劳机理-监测
中图法分类号:
TN386.2
题名责任附注:
编著还有:刘宾礼、罗毅飞、黄永乐
内容简介:
本书通过分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理, 在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上, 通过将理论分析与解析描述相结合, 建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法, 对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。
电子书链接:
畅想之星
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