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题名/责任者:

RTL设计师面试攻略:芯片从设计到交付的全流程/(美) 奇普瑞森著 孙健, 魏东译

出版发行项:

北京:科学出版社,2026.01

ISBN及定价:

978-7-03-083821-6/CNY68.00

载体形态项:

187页:图;26cm

统一题名:

Crack the hardware interview from RTL designers' perspective

其它题名:

芯片从设计到交付的全流程

个人责任者:

奇普瑞森 (Chipressian) 著

个人次要责任者:

孙健 译

个人次要责任者:

魏东 译

学科主题:

集成电路-电路设计

中图法分类号:

TN402

书目附注:

有书目 (第177页)

提要文摘附注:

本书分为三大部分: 第一部分围绕架构与微架构展开, 涵盖CPU流水线、CPU乱序调度、虚拟内存和TLB、缓存一致性、FIFO、CDC、LRU算法、重排序、仲裁器、数字分频器、算术逻辑设计、序列产生器等 ; 第二部分聚焦验证、实现、综合与功耗, 详细讲解设计验证、形式验证、CDC检查、RDC检查、ECO流程等 ; 第三部分涉及物理设计和芯片调试, 包括STA、SDC、时序ECO等 ; 同时在末尾分享行为类问题及实用面试建议等。

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