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题名/责任者:

微电子器件可靠性/贾新章 ... [等] 编著

版本说明:

第2版

出版发行项:

北京:高等教育出版社,2025

ISBN及定价:

978-7-04-063764-9/CNY45.00

载体形态项:

277页:图;26cm

丛编项:

集成电路新兴领域“十四五”高等教育教材

个人责任者:

贾新章 编著

学科主题:

微电子技术-电子器件-可靠性-高等教育-教材

中图法分类号:

TN406

题名责任附注:

题名页题其余责任者: 刘红侠, 游海龙, 恩云飞, 郑雪峰

责任者附注:

贾新章, 西安电子科技大学集成电路学部教授, 博士生导师。长期从事集成电路设计、微电路质量可靠性分析和评价等方面的科研和教学工作。

书目附注:

有书目 (二维码)

提要文摘附注:

本书共7章, 以硅微电子器件为中心, 在介绍可靠性基本概念、梳理可靠性基本理念的基础上, 重点介绍微电路可靠性设计技术、可靠性的工艺保证要求和控制方法、微电路可靠性试验与评价, 以及支撑这些技术的可靠性数学、可靠性物理和失效分析技术。本书同时介绍了氮化镓器件的主要失效机理和可靠性设计对策。

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