MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：5
- 题名/责任者:
- 电子器件辐射效应仿真技术/丁李利, 陈伟, 王坦著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2025
- ISBN及定价:
- 978-7-03-080501-0/CNY128.00
- 载体形态项:
- 184页:图;24cm
- 丛编项:
- 辐射环境模拟与效应丛书
- 个人责任者:
- 丁李利 著
- 个人责任者:
- 陈伟 著
- 个人责任者:
- 王坦 著
- 学科主题:
- 电子器件-辐射效应-仿真
- 中图法分类号:
- TN602
- 书目附注:
- 有书目
- 提要文摘附注:
- 本书主要介绍总剂量效应仿真技术、单粒子效应仿真技术、位移损伤仿真技术、瞬时剂量率效应仿真技术、辐射效应仿真软件等内容, 给出粒子输运仿真、器件级仿真、电路级仿真等不同层级仿真手段在辐射效应研究中的应用案例。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN602/17 | 2352622 |  自然科学书库-四楼西北
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可借 | 自然科学书库-四楼西北 | |
| TN602/17 | 2352623 | 自然科学书库-四楼西北
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可借 | 自然科学书库-四楼西北 |
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