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题名/责任者:

国家高新区创新系统脆弱性评价与调控策略/解佳龙, 周文婷著

出版发行项:

北京:中国社会科学出版社,2025

ISBN及定价:

978-7-5227-3840-6/CNY59.00

载体形态项:

165页;24cm

并列正题名:

High-tech industrial development zone

个人责任者:

解佳龙, 1988- 著

个人责任者:

周文婷 著

学科主题:

高技术产业区-企业创新-研究

中图法分类号:

F127.9

责任者附注:

解佳龙 (1988.1-), 武汉理工大学获管理学博士, 中南民族大学副教授, 硕士生导师, 国家自然科学基金通讯评议专家, 湖北省产品创新管理研究中心研究员。

书目附注:

有书目 (第122-138页)

提要文摘附注:

我国高新区聚集了全国36.4%的高新技术企业, 在信息技术、光电子、集成电路等领域培育出了华为、腾讯、小米等一批全球领军企业和3330家瞪羚企业, 创新成果骄人。然而, 关键领域遭遇“卡脖子”难题、高技术产业技术密集度低、产城融合遇阻、同质竞争严重等现实问题也极大制约了我国高新园区创新质效升级。这些内外压力要求高新区必须全面审视自身创新体系, 找准脆弱点并强化主体对创新环节的把控, 探索创新脆弱性应对方法以控制创新风险, 实现高新区可持续创新和系统优化。本书在梳理高新区创新系统、复杂系统脆弱性等理论基础上, 提出了国家高新区创新系统脆弱性的概念, 并对其特征、成因和驱动机理进行了分析, 又进一步在“压力-状态-响应” (PSR) 循环框架下搭建了高新区创新系统脆弱性评价体系。通过建立评价模型实证测算了2016-2020年147家高新区创新系统的脆弱性表现, 并利用地理信息技术和云模型对评价结果进行了空间呈现和差异化分析, 同时运用耦合协调性函数验证系统协调性。随后引入障碍度模型和阻力模型, 实现了高新区创新系统致脆因素的识别与趋势分析, 对各高新区创新系统脆弱性短板类型进行了划分, 并据此从整体布局、路径选择和体系修复等方面提出创新脆弱性调控建议。

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