- 题名/责任者:
- 专利视角下的半导体量检测关键技术/孙跃飞主编
- 出版发行项:
- 北京:知识产权出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-5130-9496-2/CNY99.00
- 载体形态项:
- 218页:图;26cm
- 个人责任者:
- 孙跃飞 主编
- 学科主题:
- 半导体技术-专利-分析方法
- 中图法分类号:
- G306
- 一般附注:
- 本书内容主要基于2023年度国家知识产权局学术委员会专利分析普及推广项目“面向先进制程的半导体量检测关键技术专利分析研究”
- 责任者附注:
- 书内题: 孙跃飞主编
- 提要文摘附注:
- 本书创新性地开展“双线联动”和“双维定位”特色分析, 重点研究了半导体产业关键核心技术的专利布局脉络和重点申请人布局情况, 研究内容紧扣当下产业急需和未来发展趋势, 不仅可以为现有科研工作提供有力的支撑, 而且为未来的科研工作提供了有效的科研情报信息。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| G306/16 | 2359509 |  文化体育语言类书库-三楼西南
|
可借 | 文化体育语言类书库-三楼西南 | |
| G306/16 | 2359510 | 文化体育语言类书库-三楼西南
|
可借 | 文化体育语言类书库-三楼西南 |
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