- 题名/责任者:
- 高管团队风险偏好对技术创新失败企业再创新影响机理研究/张洋著
- 出版发行项:
- 长沙:中南大学出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-5487-5537-1/CNY42.00
- 载体形态项:
- 233页:图;21cm
- 个人责任者:
- 张洋 著
- 学科主题:
- 风险管理-影响-企业创新-研究
- 中图法分类号:
- F273.1
- 书目附注:
- 有书目 (第211-233页)
- 提要文摘附注:
- 本书从个人和企业两个层面选取15个指标, 构建高管团队风险偏好综合测度指标体系, 建构了高管团队风险偏好综合测度模型, 分析了高管团队风险偏好对企业技术创新失败再创新行为的影响效应, 探讨了高管团队风险偏好对企业技术创新失败再创新绩效的影响效应, 揭示了失败再创新行为在高管团队风险偏好与失败再创新绩效间的中介效应。根据本文研究结论, 针对技术创新失败企业分别从企业和政府两个层面提出对策和建议。
- 使用对象附注:
- 本书适用于风险管理影响企业创新研究者
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| F273.1/243 | 2412896 |  经济类书库-四楼西南
|
可借 | 经济类书库-四楼西南 | |
| F273.1/243 | 2412897 | 经济类书库-四楼西南
|
可借 | 经济类书库-四楼西南 |
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