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题名/责任者:

晶体学、粉末X射线衍射与透射电子显微学基础/(新) 董志力著 潘昆明译

出版发行项:

北京:冶金工业出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-5024-9972-3/CNY80.00

载体形态项:

XV, 220页:图;24cm

统一题名:

Fundamentals of crystallography, powder x-ray diffraction, and transmission electron microscopy for materials scientists

个人责任者:

董志力 著

个人次要责任者:

潘昆明 译

学科主题:

X射线晶体学

学科主题:

透射电子显微术

中图法分类号:

O72

中图法分类号:

O766

出版发行附注:

由Taylor & Francis出版集团旗下, CRC 出版公司出版, 并经其授权出版

相关题名附注:

英文题名取自封面

责任者附注:

董志力, 现为新加坡南洋理工大学材料科学与工程学院副教授、获得终身教职合约。潘昆明, 工学博士, 河南科技大学教授、博士生导师, 国家重大人才工程青年学者, 享受河南省政府特殊津贴。

书目附注:

有书目和索引

提要文摘附注:

本书共3部分, 第1部分为晶体学简介, 包括晶体与布拉维点阵的周期性, 晶体的对称性、点群和空间群, 倒易点阵及晶体结构表征举例 ; 第2部分为材料的X射线衍射, 包括X射线衍射的几何原理、X射线的衍射强度、实验方法与粉末X射线衍射仪、粉末X射线图谱的Rietveld精修 ; 第3部分为材料透射电子显微学, 包括电子和X射线的原子散射因子、透射电子显微镜中的电子衍射、衍射衬度和相位衬度。

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