MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：13
- 题名/责任者:
- CEI测量技术原理、系统设计与应用/黄磊 ... [等] 著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-302-66067-5 精装/CNY99.00
- 载体形态项:
- 169页, [4] 页图版:图;24cm
- 丛编项:
- 中国航天科技前沿出版工程.中国航天空间信息技术系列
- 个人责任者:
- 黄磊 著
- 个人责任者:
- 刘友永 著
- 个人责任者:
- 陈少伍 著
- 个人责任者:
- 孟玮 著
- 学科主题:
- 干涉测量法
- 中图法分类号:
- O4
- 责任者附注:
- 题名页题其余责任者：刘友永、陈少伍、孟玮
- 书目附注:
- 有书目
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| O4/732 | 2401120 |  自然科学书库-四楼西北
|
可借 | 自然科学书库-四楼西北 |
显示全部馆藏信息