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MARC状态:审校 文献类型:中文图书 浏览次数:15

题名/责任者:
半导体器件物理基础/陈达,王璟璟主编
出版发行项:
上海:上海交通大学出版社,2025
ISBN及定价:
978-7-313-30881-8/CNY88.00
载体形态项:
262页:图;26cm
个人责任者:
陈达 主编
个人责任者:
王璟璟 主编
学科主题:
半导体器件-半导体物理
中图法分类号:
TN303
提要文摘附注:
本书按照“载流子浓度随时间、空间变化的基本规律”和“宏观量与微观量之间的联系”两条主线,介绍了半导体物理的基础知识和半导体器件的基本原理与特性。具体内容包括半导体的电子状态、热平衡半导体、PN结的机理与特性、双极结型晶体管、金属-氧化物-半导体结构、金属-半导体结与其他晶体管、闪存存储器、集成电路制造工艺等。
使用对象附注:
本书适用于高等院校集成电路科学与工程、集成电路设计与集成系统、电子科学与技术、微电子学、光电子技术、物理学等专业学生
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN303/27 2324261   自然科学书库-四楼西北     可借 自然科学书库-四楼西北
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