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首记录 上一条 1 / 2 下一条 尾记录 MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：19

题名/责任者:
电子薄膜可靠性/(美) 杜经宁著 王琛, 刘影, (美) 杜经宁译
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2024
ISBN及定价:
978-7-302-67036-0 精装/CNY149.00
载体形态项:
346页:图;24cm
并列正题名:
Electronic thin-film reliability
丛编项:
先进芯片材料与后摩尔芯片技术丛书
个人责任者:
杜经宁 (电子学) 著
个人次要责任者:
王琛 译
个人次要责任者:
刘影 译
学科主题:
电子材料-薄膜-可靠性
中图法分类号:
TN04
书目附注:
有书目
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN04/5 2274626   自然科学书库-四楼西北     可借 自然科学书库-四楼西北
TN04/5 2274627   自然科学书库-四楼西北     可借 自然科学书库-四楼西北
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