MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：15
- 题名/责任者:
- UVM芯片验证技术案例集/马骁编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2024
- ISBN及定价:
- 978-7-302-65854-2/CNY119.00
- 载体形态项:
- 20, 424页:图;24cm
- 丛编项:
- 计算机技术开发与应用丛书
- 个人责任者:
- 马骁 编著
- 学科主题:
- 芯片-验证
- 中图法分类号:
- TN43
- 提要文摘附注:
- 本书是基于UVM验证方法学的针对芯片验证实际工程场景的技术专题工具书, 包括对多种实际问题场景下的解决专题, 推荐作为UVM的进阶教材进行学习。不同于带领读者学习UVM的基础用法, 本书包括多个专题, 每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题, 相关技术工程师可以快速参考并复现解决思路和步骤, 实用性强。本书详细描述了每个专题要解决的问题、背景、解决的思路、基本原理、步骤, 并给出了示例代码以供参考。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN43/16 | 2339718 |  自然科学书库-四楼西北
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可借 | 自然科学书库-四楼西北 | |
| TN43/16 | 2339719 | 自然科学书库-四楼西北
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可借 | 自然科学书库-四楼西北 |
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