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题名/责任者:

片上系统测试设计与优化/(瑞典) 埃里克·拉森著 孙仁杰译

出版发行项:

北京:科学出版社,2024

ISBN及定价:

978-7-03-076918-3/CNY88.00

载体形态项:

x, 314页:图;26cm

并列正题名:

Introduction to advanced system-on-chip test design and optimization

个人责任者:

拉森 (Larsson, Erik) 著

个人次要责任者:

孙仁杰 译

学科主题:

微型计算机-系统测试

中图法分类号:

TP360.21

书目附注:

有书目 (第301-314页)

提要文摘附注:

本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。<BR>《片上系统测试设计与优化》由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。

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