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题名/责任者:

电子元器件可靠性技术基础/付桂翠 ... [等] 编著

版本说明:

第2版

出版发行项:

北京:北京航空航天大学出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-5124-3714-2/CNY55.00

载体形态项:

268页:图;26cm

个人责任者:

付桂翠 编著

个人责任者:

万博 编著

个人责任者:

张素娟 编著

个人责任者:

高成 编著

学科主题:

电子元件-可靠性

中图法分类号:

TN6

题名责任附注:

题名页题其余责任者: 万博, 张素娟, 高成

书目附注:

有书目 (第266-268页)

提要文摘附注:

本书主要围绕航空航天等装备产品高可靠、长寿命需求背景下的电子元器件可靠性保证技术这一主题, 针对电子元器件的固有可靠性和使用可靠性相关的技术进行详细的介绍。首先简要介绍电子元器件的可靠性及电子元器件的分类。其次, 在固有可靠性中, 介绍电子元器件的制造技术、封装技术及可靠性试验技术。在使用可靠性部分, 主要介绍使用可靠性保证、电子元器件的降额设计、热设计与热分析、可靠性筛选、静电损伤及防护、破坏性物理分析、失效分析等技术。最后介绍基于失效物理的元器件可靠性评价技术。

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