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题名/责任者:

伪集成电路检测与防护:detection and avoidance/(美) 马克 (穆罕默德)·德黑兰尼普尔, 乌杰瓦尔·吉恩, 多梅尼克·福特著 李雄伟 ... [等] 译

出版发行项:

北京:国防工业出版社,2022

ISBN及定价:

978-7-118-12500-9 精装/CNY125.00

载体形态项:

xx, 227页:图;25cm

统一题名:

Counterfeit integrated circuits : detection and avoidance

个人责任者:

德黑兰尼普尔 (Tehranipoor, Mark Mohammad) 著

个人责任者:

吉恩 (Guin, Ujjwal) 著

个人责任者:

福特 (Forte, Domenic) 著

个人次要责任者:

李雄伟 译

个人次要责任者:

张阳 译

学科主题:

集成电路-检测

中图法分类号:

TN407

一般附注:

装备科技译著出版基金

题名责任附注:

题名页题: 李雄伟, 张阳, 陈开颜, 谢方方, 李艳译; 封面题: 李雄伟, 张阳, 陈开颜等译

出版发行附注:

本书中文简体版由Springer出版社授权国防工业出版社独家出版发行

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

伪集成电路是指不符合正品集成电路设计规范要求的非授权产品, 主要形式包括回收、重标记、超量生产、不合格/有缺陷、克隆、伪造文件, 以及篡改等, 会大大降低应用系统的安全性和可靠性。本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析, 并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家, 全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题, 可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室, 以及学术界提供必需的路线图。

使用对象附注:

可供集成电路、计算机等专业领域的研究人员使用, 也可为集成电路的研制/生产/选用等工程技术人员、质量管理人员以及可靠性分析人员提供参考

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