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题名/责任者:

纳米级系统芯片单粒子效应研究/贺朝会 ... [等] 著

出版发行项:

北京:科学出版社,2021

ISBN及定价:

978-7-03-067328-2/CNY98.00

载体形态项:

191页:图;24cm

个人责任者:

贺朝会 著

个人责任者:

杜雪成 著

个人责任者:

杨卫涛 著

个人责任者:

杜小智 著

学科主题:

集成芯片-单粒子态-研究

中图法分类号:

TN430.3

题名责任附注:

题名页题其余责任者: 杜雪成, 杨卫涛, 杜小智

书目附注:

有书目 (第181-191页)

提要文摘附注:

本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应, 主要包括国内外研究现状, SoC单粒子效应测试系统的建立, α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究, SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。

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