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题名/责任者:

现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应/(日)Eishi H. Ibe著 毕津顺，马瑶，王天琦译

出版发行项:

北京:电子工业出版社,2019

ISBN及定价:

978-7-121-35115-0/CNY79.00

载体形态项:

14,210页:图;26cm

并列正题名:

Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems

丛编项:

国防电子信息技术丛书.集成电路辐射效应与加固技术

个人责任者:

(日) 伊部英治 著

个人次要责任者:

毕津顺 译

个人次要责任者:

马瑶 译

个人次要责任者:

王天琦 译

学科主题:

集成电路-全球环境-辐射效应

学科主题:

电子系统-全球环境-辐射效应

中图法分类号:

TN4

中图法分类号:

TN103

版本附注:

由John Wiley & Sons,Inc.授权出版

提要文摘附注:

本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括：电子、介子、中子和重离子等，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。书中对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模，以量化和减少其影响，并解释了在环境辐射中包括服务器和路由器在内的电子系统是如何失效的。

使用对象附注:

本书适用于航天电子、核与空间辐射、半导体物理和电子设备以及其他应用物理建模领域的科研人员和研究生

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