MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：16
- 题名/责任者:
- 电子元器件检验技术.测试部分/王晓晗，罗宏伟编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2019
- ISBN及定价:
- 978-7-121-33485-6/CNY98.00
- 载体形态项:
- 11,382页:图;26cm
- 丛编项:
- 可靠性技术丛书
- 个人责任者:
- 王晓晗 编著
- 个人责任者:
- 罗宏伟 编著
- 学科主题:
- 电子元器件-检测
- 中图法分类号:
- TN606
- 题名责任附注:
- 工业和信息化部电子第五研究所组编
- 提要文摘附注:
- 本书从电子元器件检验和生产行业角度出发，围绕电子元器件检验主题，阐述了检验的基本概念、标准体系，重点介绍了集成电路、半导体分立器件等十大类基本电子元器件的参数测试方法，同时将团队多年来实际工作中的工程应用经验进行了概括总结。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN606/14 | 1705181 |  自然科学书库-四楼西北
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可借 | 自然科学书库-四楼西北 | |
| TN606/14 | 1705182 | 自然科学书库-四楼西北
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可借 | 自然科学书库-四楼西北 |
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