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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:24

题名/责任者:
产品设计的电磁兼容故障排除技术/(美) 帕特里克·G. 安德烈, 肯尼思·D. 怀亚特著 崔强译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2019
ISBN及定价:
978-7-111-62047-1/CNY49.00
载体形态项:
254页:图;21cm
统一题名:
EMI Troubleshooting cookbook for Product Designers
丛编项:
国际电气工程先进技术译丛
个人责任者:
安德烈 (André, Patrick G.)
个人责任者:
怀亚特 (Wyatt, Kenneth D.)
个人次要责任者:
崔强
学科主题:
电子产品-产品设计-电磁兼容性-故障修复
中图法分类号:
TN03
出版发行附注:
由SciTech公司授权出版
相关题名附注:
英文题名取自封面
书目附注:
有书目
提要文摘附注:
本书详细讲述了产品的电磁干扰(EMI)故障排除技术。其目的是为工程师和技术人员提供EMI故障排除思路、故障排除方法或诊断工具。全书共11章,内容包括电磁基础、电磁干扰和电磁兼容、测量仪器、辐射发射、传导发射、辐射敏感度、传导敏感度、电快速瞬变脉冲群(EFT)、静电放电(ESD)、浪涌和雷电脉冲的瞬态抑制,以及其他特定的EMI问题。此外,本书还给出了8个附录,为读者提供了非常有价值的辅助信息、技术和工具。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN03/9 1662965   自然科学书库-四楼西北     可借 自然科学书库-四楼西北
TN03/9 1662966   自然科学书库-四楼西北     可借 自然科学书库-四楼西北
TN03/9 1662967   自然科学书库-四楼西北     可借 自然科学书库-四楼西北
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