MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：39
- 题名/责任者:
- 数字系统测试和可测试性设计/(美)纳瓦比(Navabi,Z.)著
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2015.4
- ISBN及定价:
- 978-7-111-50154-1/CNY85.00
- 载体形态项:
- 368页;23cm
- 丛编项:
- 电子与嵌入式系统设计译丛
- 个人责任者:
- (美) 纳瓦比(Navabi )著
- 个人责任者:
- Z.) 著
- 学科主题:
- 数字系统-系统测试
- 中图法分类号:
- TP271
- 提要文摘附注:
- 这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和Verilog PLI编写测试应用，这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TP271/9 | 1407698 |  自然科学书库-四楼西北
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| TP271/9 | 1407699 | 自然科学书库-四楼西北
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| TP271/9 | 1407700 | 自然科学书库-四楼西北
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| TP271/9 | 1407701 | 自然科学书库-四楼西北
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| TP271/9 | 1407702 | 自然科学书库-四楼西北
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