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题名/责任者:

测试驱动的嵌入式C语言开发/(美)James W. Grenning著 尹哲等译

出版发行项:

北京:机械工业出版社,2012

ISBN及定价:

978-7-111-36623-2/CNY49.00

载体形态项:

15,256页;24cm

并列正题名:

Test-driven development for embedded C

丛编项:

华章专业开发者丛书

个人责任者:

(美) 格林宁 (Grenning, James W.) 著

个人次要责任者:

尹哲 译

学科主题:

C语言-程序设计

学科主题:

C语言

学科主题:

程序设计

中图法分类号:

TP312C

版本附注:

由The Pragmatic Programmers, LLC授权出版

提要文摘附注:

本书介绍了两个开源的测试框架，通过测试驱动开发方法开发第一个模块；系统中其他模块进行交互的代码的测试技术；设计与持续改进代码，如写出更好代码的一些重要原则，建立可测并灵活设计的高级技术，改进已有代码的实践方法一一重构技术，改进遗留代码，以及编写和维护测试的指导原则。

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